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横截面和金相学

发表时间:[2018-7-29 22:19:24]

通过将样品安装在环氧树脂中然后研磨和抛光该安装座以在光学显微镜或扫描电子显微镜(SEM)中成像来制备横截面。横截面的有价值信息可包括:薄膜厚度,夹杂物,腐蚀厚度,尺寸验证和地下缺陷。通常蚀刻金相截面以显示微结构。微观结构分析可以提供关于热处理历史,腐蚀敏感性以及不期望的微量成分的信息。

金相分析可用作帮助识别金属或合金,确定合金是否正确加工,检查材料中的多个相,定位和表征缺陷(如空隙或杂质)或观察损坏或退化的工具失效分析调查领域。
在这种评估中最常使用的方法是显微镜检查。具有能量色散x射线分析(SEM / EDX)的光学和扫描电子显微镜都可用于金相分析。X射线光电子能谱也可用于测量微观结构分析中的碳化物和图形夹杂物。

冶金分析通常利用横截面抛光,有时使用化学或电化学蚀刻来观察金相组织。

通过将样品安装在环氧树脂中,然后研磨和抛光该安装座以在光学显微镜或扫描电子显微镜(SEM)中成像来制备横截面。横截面的有价值信息可包括薄膜厚度,夹杂物,腐蚀厚度,尺寸验证和地下缺陷。
通常蚀刻金相截面以显示微结构。微观结构分析可以提供关于热处理历史和腐蚀敏感性以及不期望的微量成分的信息。

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